34 1.塑料薄膜厚度公差 、塑料薄膜出厂前 ，厚度公差都要经过两次检测 ，一次是在薄膜生产过程中，利用放射性同位素或X射线等测厚仪进行在线检测。这种检测目的是在薄膜生成过程中及时控制薄膜的厚度 ，不作为最终产品厚度检测仪器。检测的结果是代表薄膜上一个小区域的厚度平均值 ，其精度较差。第二次是在薄膜出厂前 ，利用光电测厚仪来检测薄膜的厚度公差。其结果代表薄膜的实际厚度值。光电测厚法是利用误差≤±0.2um的测试仪器进行检测。薄膜放在磨光的平台上 ，在直径≥2mm的 测量头下 ，opp塑料袋厂，使 用 0.1~0.5N的 接触压力 ，宜兴塑料袋，目测薄膜的厚度。然后进行厚度计算 ，计算公式如下 :平均厚度偏差 (%)=± 平均厚度一公称厚度 ×100(6-11)，厚度偏差 (%)=极限厚度一公称厚度 ×100(6-12)
式中公称厚度—— 名义厚度 ; 平均厚度—— 勿个厚度测量值的算术平均值 ;极限厚度—— 公称厚度值。这种方法中 ，通常是用单层薄膜进行测量 ，定做塑料袋厂，显示薄膜实际厚度值。
39.薄膜体积电阻率的测定
将数层 100mm×100mm试样放在直径80mm的下电极上 ，塑料袋厂家，将电极与试样之间的空气排出 ，加上直径(50± 0.5)mm，质量为(100±20 )g的上电极 ，然后放好保护电极 ，其内径为 (70±0.5)mm，外 径为(80±0.5)mm，质量为(80±20)g。即完成测试准备工作。测试时按高阻计操作程序进行操作 ，测定一分钟充电后试样的电阻值 ，然后测定三厚度由于材 料的结晶情况和薄膜的性能有关 ，与薄膜的成型性有关。因此 ，在薄膜的加工过程往往需要及时检测产品及半成品的结晶度。在一般情 况下 ，结晶聚合物不可能完全结晶 ，结晶的程度均是用材料中结晶部分的质量占聚合物的总质量的百分比来表示的。结晶度的测定方法有密度法 (密 度梯度法 )、 X射 线衍射法、红 外光谱法等。其中 ，由 于密度梯度法投资费用较低 ，目 前被很多薄膜生产厂广泛地使用。
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