34 1.塑料薄膜厚度公差 、塑料薄膜出厂前 ，厚度公差都要经过两次检测 ，塑料袋上面印字，一次是在薄膜生产过程中，塑料袋，利用放射性同位素或X射线等测厚仪进行在线检测。这种检测目的是在薄膜生成过程中及时控制薄膜的厚度 ，不作为最终产品厚度检测仪器。检测的结果是代表薄膜上一个小区域的厚度平均值 ，其精度较差。第二次是在薄膜出厂前 ，利用光电测厚仪来检测薄膜的厚度公差。其结果代表薄膜的实际厚度值。光电测厚法是利用误差≤±0.2um的测试仪器进行检测。薄膜放在磨光的平台上 ，在直径≥2mm的 测量头下 ，使 用 0.1~0.5N的 接触压力 ，目测薄膜的厚度。然后进行厚度计算 ，计算公式如下 :平均厚度偏差 (%)=± 平均厚度一公称厚度 ×100(6-11)，厚度偏差 (%)=极限厚度一公称厚度 ×100(6-12)
式中公称厚度—— 名义厚度 ; 平均厚度—— 勿个厚度测量值的算术平均值 ;极限厚度—— 公称厚度值。这种方法中 ，通常是用单层薄膜进行测量 ，显示薄膜实际厚度值。
7环境应力开裂，聚合物表面承载时承受侵蚀性介质的能力称为耐环境应力开裂性(ESCR)。 环境应力开裂取决于作用应力的性质和大小以及试样的热历史和环境 ，因此也称为应力腐蚀。环境应力开裂在一定应力条件下、在一定环境中发生。例如，塑料袋上印字，肥皂、湿润剂和去污剂存在时 ，开裂会使乙烯基塑料力学性能失效。典型的情况是，随着聚合物分子量的增加 ，ESCR提高。ASTM D1693专门用于测试乙烯基塑料的环境应力开裂。应力开裂是小于其短时力学强度的拉伸应力引起的外部或内部破裂 ，环境加速应力开裂的发展。透明聚合物表面上似乎是开裂的外观在拉伸应力作用下发展 ， 裂缝平面垂直于应力方向。裂缝通常在表面引发 ，塑料袋马甲袋，但在特殊环境下也可能向内发展。它们反射光的方式类似于裂纹，且确实早于薄膜的破裂。在测试中，每一个弯曲试样的表面上都有一个可控缺陷 ，使其受表面活性剂的作用 ，记录给定时间内开裂试样 占总数中的比例。
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