故障,日本藤仓光纤熔接机,22S马达故障放电偏左偏右

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故障,日本藤仓光纤熔接机,22S马达故障放电偏左偏右

材料玻璃纤维光纤芯数/种类单芯 / SMF(G.652), MMF(G.651), DSF(G.653),22S马达故障放电偏左偏右, NZDSF(G.655), BIF(G.657)光纤外径包层直径:80um - 150um,涂覆层...


品牌 住维通信
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材料玻璃纤维光纤芯数/种类单芯 / SMF(G.652), MMF(G.651), DSF(G.653),22S马达故障放电偏左偏右, NZDSF(G.655), BIF(G.657)光纤外径包层直径:80um - 150um,涂覆层直径:100um - 1,000um切断长度5 - 16mm (使用涂覆压夹)标准熔接损耗 ※1SMF:0.03dB,故障, MMF:0.01dB, DSF:0.04dB, NZDSF:0.04dB标准反射衰减大于60dB熔接时间7秒 (SM G652 Quick模式),9秒 (Auto模式)加热时间20秒 (使用FPS-61-2.6热缩套管,Slim 60mm Quick模式下)电池使用次数(含熔接和加热补强) ※2约115次(BU-11S)光纤观察/放大倍数2个CMOS照相机观察200倍(变焦:525X)「X或Y单轴」, 88倍「X/Y双轴」 熔接点张力试验1.96 - 2.09N加热补强保护套管规格60mm, 40mm 以及住友Nano热缩套管
适用光纤SM(单模)、MM(多模)、DS(色散位移)以及NZDS(非零色散位移,即G.655光纤)实际平均损耗0.05dB(SM)、0.02dB(MM)、0.08dB(DS)、0.08dB(NZDS)接续时间11秒(标准SM模式)加热时间30秒(FP-03/FP-03,L=40/FP-04T/FP-05);35~50秒(微型热缩套管)接续结果的存储可在内置存储器中保存2000个接续结果光纤影像的存储可在内置存储器中保存8个光纤影像光纤显示方式X轴和Y轴独立显示,60S马达故障放电偏左偏右,或同时显示X/Y轴尺寸/重量136(W)×161(D)×143(H)/2.1kg(含ADC-13),62S马达故障放电偏左偏右,2.5kg(含BTR-08)回损与风速≥60dB,15m/s操作环境-10~+50℃(温度),0~95%(湿度),0~3660m(海拔)贮存环境-40~+80℃(温度),0~95%(湿度)